全国服务热线
0755-82373580
P
                     
               
产品中心
当前位置:
roduct
SE-PCT02 通用型高精密CT检测系统
    发布时间: 2022-11-01 11:53    
SE-PCT02 通用型高精密CT检测系统

SE-PCT02通用型高精密CT检测系统.能在短时间内建出多层断层图像包括样品的三维成像,快速,准确的对样品进行建模、分析和检测

产品优势                                                                     

  • 载物台最大承重 30kg,可检样品300×600mm

  • 最佳分辨率自动定位

  • 快速重建,指定区域高精度重建结合,精确分析客户关注需求

  • 三维点云图任意角度切片提取,精准分析

  • 多尺度二维图像增强,细节更突出

  • 扫描过程简单、重建成像迅速 

应用领域

  • 小型及中型金属件

  • 复合材料

  • 功率半导体

  • 生物样本

  • 陶瓷器件

系统规格

系统参数

空间分辨率:>3μ m

最小缺陷分辨率:1.5μ m

对比度分辨率:小于1%

测量误差:(1.5+L/200)μ m

射线防护:﹤1μ Sv/h,符合国家 GBZ117-2015 标准

样品最大直径:300mm

样品最大长度:600mm

样品最大重量:30kg

设备尺寸:2500mm(长)×1500mm(宽)×1800mm(高)

设备重量:约 5000kg

供给电源:220VAC, 50/60Hz

工作环境:0℃~ 40℃ / 30 ~ 85RH

设备功率:1.3KW

探测器

像素矩阵:3072X3072

成像面积:427mmX427mm

像素尺寸:139μ m

X射线源

电压:225kV

最小焦斑:<3μ m

光管类型:开管


               

公司名称:深圳市金检时代科技有限公司

地      址:深圳市龙华区观澜街道大富工业区金豪创业园B栋4楼


联系电话: 0755-82373580


移动电话13530529538

联  系 人: 庞先生