SE-PCT02通用型高精密CT检测系统.能在短时间内建出多层断层图像包括样品的三维成像,快速,准确的对样品进行建模、分析和检测。
产品优势
应用领域
小型及中型金属件
复合材料
功率半导体
生物样本
陶瓷器件
系统规格
系统参数
空间分辨率:>3μ m
最小缺陷分辨率:1.5μ m
对比度分辨率:小于1%
测量误差:(1.5+L/200)μ m
射线防护:﹤1μ Sv/h,符合国家 GBZ117-2015 标准
样品最大直径:300mm
样品最大长度:600mm
样品最大重量:30kg
设备尺寸:2500mm(长)×1500mm(宽)×1800mm(高)
设备重量:约 5000kg
供给电源:220VAC, 50/60Hz
工作环境:0℃~ 40℃ / 30 ~ 85RH
设备功率:1.3KW
探测器
像素矩阵:3072X3072
成像面积:427mmX427mm
像素尺寸:139μ m
X射线源
电压:225kV
最小焦斑:<3μ m
光管类型:开管